SEM

Microscopia Elettronica a Scansione

La microscopia elettronica a scansione (SEM) è una tecnica analitica che sfrutta l’emissione di elettroni ed energia di un campione da analizzare quando è sottoposto ad un bombardamento mediante fascio di elettroni accelerati a migliaia di elettronvolts e collimati con precisione dalle lenti elettromagnetiche dello strumento.

I segnali vengono raccolti da opportuni rivelatori e, abbinati ad un sistema di scansione del fascio e di elaborazione video, permettono al microscopio di produrre un’immagine ad alto ingrandimento ed elevata risoluzione (da qualche decina a centinaia di migliaia di ingrandimenti).

Per la determinazione delle fibre minerali aerodisperse, che prevede l’impiego della SEM, la letteratura scientifica, ma anche specifiche norme di Legge, richiedono l’utilizzo di membrane in policarbonato.
Anche utilizzando membrane in nitrato di cellulosa è possibile ottenere risultati equivalenti, se non migliori. Infatti, pur non avendo questo tipo di membrana caratteristiche di conducibilità elettrica ottimali, il gel che si forma col procedimento della diafanizzazione con vapori caldi di acetone (operazione da farsi direttamente sui portacampioni in alluminio o stubs del SEM) consente di fissare meglio le particelle raccolte e le fibre in particolare.

La successiva grafitazione sotto vuoto consente di ottenere una sufficiente conducibilità elettrica della superficie della membrana da analizzare. Viceversa il materiale particellato raccolto su membrane in policarbonato può essere facilmente “sbalzato” quando viene sottoposto a bombardamento elettronico, perché le forze fisiche di coesione sono piuttosto deboli. Le fibre si elettrizzano facilmente comportandosi come dei “dipoli”, possono ruotare su se stesse o addirittura essere rimosse anche per effetto del vuoto che viene prodotto all’interno della camera d’analisi